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      碳化SiC晶體生長過程的德國IMPAC紅外測溫儀應用

       更新時間:2024-10-16 點擊量:300


       在高溫區(2000℃)將碳化硅SiC粉末升華,將碳化硅SiC氣體沿著溫度梯度輸送,在較冷的尾部碳化硅SiC籽品凝聚為晶體。

       

      目前國際主流大規模應用的晶體生長方法,具有技術方案成熟、生長過程簡單、設備成本低等特點。技術難點主要為大尺寸襯底制備、缺陷水平控制及良率提升。

       

      加熱模式

      SiC PVT長晶爐有電感加熱和電阻加熱加熱兩種加熱模式。

       

      測溫方式

       

      溫度一般需要控制2400℃上下,由于生產過程不可見,為保證晶體生長品質需要精確調控生長溫度,有上測溫、下測溫、或上下測溫等多種形式,高溫計通過石英窗口、保溫層通孔測試坩堝底部或頂部的溫度。

       

      SiC長晶工藝溫度監測方案

       

      由于設備結構限制,推薦使用帶有視頻瞄準的高溫計;可以選用以下型號:

       

      推薦一:

      IMPAC  ISR 6     1000~3000  ,雙色,高溫,小光斑

       image.png

       


      推薦二:

      IMPAC  IGAR 6  Smart  ,100~2550℃ ,雙色,寬量程,低高溫兼顧

       image.png


      推薦三:

       

      IMPAC  IGA 6   ,250~2550℃   ,單色,寬量程,低高溫兼顧

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